本实用新型公开了一种集成电路芯片线路测试装置，包括底座，所述底座的一侧设有升降板，所述升降板的两侧均固定设有螺母，所述螺母与螺纹杆螺纹连接，所述螺纹杆的一端与第一电机的输出端连接，所述螺纹杆的另一端设有顶板，所述顶板的一侧固定设有电路芯片检测仪，所述升降板的中间设有放置槽，所述放置槽的内部设有集成电路芯片，所述放置槽的两侧设有减震装置，所述放置槽的一侧位于所述升降板上设有支撑架，所述支撑架的一端设有第二电机，所述第二电机的输出端与圆筒连接，所述圆筒的侧壁上设有弧形槽。有益效果：该装置结构简单，方便操作使用，增加接触面积的稳定性，降低短路现象的出现，提高了检测的准确性，提高了工作效率。