一种量子芯片测试线路集成装置
授权
摘要
本新型属于量子芯片测试领域，具体公开了一种量子芯片测试线路集成装置，其包括：多路量子芯片测试线路，各路所述量子芯片测试线路均集成设置在一对应PCB板上；封装体，内部开设有平行排列且相互独立的封装槽，各所述封装槽分别用于封装一路所述量子芯片测试线路，各所述量子芯片测试线路沿对应的所述封装槽的长度方向布置，且各所述封装槽的槽口处均嵌装有用于密封该所述封装槽的盖板。本新型能够克服现有技术中商用器件组件的测试线路体积大、空间利用率低、可靠性低、信号串扰等问题。
基本信息
专利标题 ：
一种量子芯片测试线路集成装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920467143.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-09
授权号 ：
CN209927978U
授权日 ：
2020-01-10
发明人 ：
李松孔伟成程帅赵泽方陈华鹏丁文举
申请人 ：
合肥本源量子计算科技有限责任公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市合肥市高新区创业产业园二期E2栋6层
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201920467143.1
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-01-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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