一种用于集成电路芯片线路的测试装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种用于集成电路芯片线路的测试装置,包括工作台,所述工作台上端两侧对称设置有支撑柱,左侧所述支撑柱右端中间位置固接有测试仪,右侧所述支撑柱左端中间位置安装有旋转底座,所述旋转底座上安装有清理机构,所述工作台的底端中间位置固定安装有电动机,所述电动机的上端且贯穿工作台活动设置有转动轴。该用于集成电路芯片线路的测试装置,能够将集成电路芯片上的灰尘去除,通过吸风机配合清理底板底端的吸尘孔,能够将扬起的灰尘吸入储灰箱,避免线路短路,有利于使用人员进行测试,且能够将集成电路芯片夹紧,避免集成电路芯片在旋转过程中被甩出,方便使用人员测试且有利于使用人员的安全。

基本信息
专利标题 :
一种用于集成电路芯片线路的测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122900593.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-24
授权号 :
CN216310204U
授权日 :
2022-04-15
发明人 :
黄文锦
申请人 :
王宝童
申请人地址 :
广东省广州市越秀区云鹤北街十六巷3号二楼
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202122900593.5
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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