一种用于集成电路芯片的辐射测试系统

授权

摘要

本实用新型公开了一种用于集成电路芯片的辐射测试系统，包括用于插接待测芯片的测试板、用于向待测芯片供电的电源以及PXI数据处理系统，其中测试板被布置在测试室中，且测试室内还布置有用于辐照待测芯片的辐照源；电源和PXI数据处理系被布置在控制室中；PXI数据处理系统包括数据采集卡、数字板卡和源测量单元板卡，数据采集卡用于采集待测芯片产生的测试数据；源测量单元板卡用于接收测试数据、对测试数据进行分析并获得分析结果；数字板卡用于接收测试数据和分析结果并进行存储。本实用新型提供的用于集成电路芯片的辐射测试系统，可以提高实验测试结果的准确性，避免出现错判或漏判问题，以及实现测试数据的存储和记录。

基本信息

专利标题：

一种用于集成电路芯片的辐射测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020016714.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-01-03

授权号：

CN211785935U

授权日：

2020-10-27

发明人：

关凯博张薇刘刚

申请人：

北京锐达芯集成电路设计有限责任公司

申请人地址：

北京市大兴区北京经济技术开发区科创十四街99号33幢D栋二层2192号

代理机构：

北京成创同维知识产权代理有限公司

代理人：

蔡纯

优先权：

CN202020016714.2

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28