一种用于集成电路芯片的测试工装
授权
摘要

本实用新型公开了一种用于集成电路芯片的测试工装,包括工作台,所述工作台的下侧固定连接有支腿,所述工作台的下部左侧和右侧分别焊接有立板,所述立板的一侧固定连接有气缸,所述气缸的活塞杆固定连接有第一压板,本实用新型带有气缸,所述气缸的活塞杆固定连接有第一压板,气缸能够带动第一压板上压,使得安装板向上移动,所述安装板的上部连接有绝缘板,所述绝缘板的上部固定连接有电极,电极上设有接线柱,接线柱通过导线连接电源,从而对电极和待测芯片供电,方便进行测试工作,所述工作台的上部固定连接有上模板,上模板用于放置待测芯片,因此方便测试,工作效率高,节省人力。

基本信息
专利标题 :
一种用于集成电路芯片的测试工装
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020978521.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-02
授权号 :
CN213210352U
授权日 :
2021-05-14
发明人 :
张伟张翔瑀
申请人 :
无锡市空穴电子科技有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市新吴区景贤路52号1106室
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202020978521.5
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-05-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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