一种集成电路测试数据的筛选装置

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摘要

本实用新型公开了一种集成电路测试数据的筛选装置，包括集成电路测试仪本体，集成电路测试仪本体底部拆线孔位置处固定连接有固定管，且固定管一端直径大于另一端直径，固定管的外部套设有紧固环，固定管的外壁开设有外螺纹，紧固环的内壁开设有内螺纹，紧固环通过内螺纹与固定管的外螺纹螺纹连接，固定管直径较大的端部呈十字型开设有四个条形开口。本实用新型利用固定管的形状特征，再配合紧固环通过内螺纹和固定管上的外螺纹螺纹连接，能够对插入的导线接头起到一个固定作用，从而防止导线接头在集成电路测试仪移动或受到碰撞时而松动，提高了对集成电路测试的准确性。

基本信息

专利标题：

一种集成电路测试数据的筛选装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921400072.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-08-27

授权号：

CN210604882U

授权日：

2020-05-22

发明人：

刘勇胡红梅张军王有宇

申请人：

深圳富睿晨电子科技有限公司

申请人地址：

广东省深圳市宝安区福永街道福围社区第二工业区A24栋四层A

代理机构：

代理人：

优先权：

CN201921400072.X

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 G01R1/04