本实用新型公开了具有双排引脚的集成电路高效测试结构，包括两个对称设置的导向支撑机构，两个所述导向支撑机构顶端的两侧均共同滑动设置有测试机构，所述导向支撑机构包括支撑板，所述支撑板一侧的顶端居中开设有导向滑槽，所述测试机构包括托板以及两个固定设置于托板底端两侧的滑块，所述滑块滑动设置于导向滑槽内，且托板的一侧居中构造有锁紧机构，所述托板的顶端居中设置有测试载板，所述托板的两端均构造有卡扣。该具有双排引脚的集成电路高效测试结构，具备位置调整功能，可适用于不同大小的集成电路，适用范围较大，降低了测试成本，省时省力，且拆卸于安装较为方便，便于工作人员操作，实用性较强。