用于测试集成电路元件的电路结构
专利权的终止专利权有效期届满
摘要
用于测试电路元件的电路结构，该电路元件作为集成电路形成于一块公共基片上，并可经基片上的公共供电和输入线操作，该电路结构的测试电路和开关单元作为集成电路形成在同一基片上，开关单元可由测试电路控制并插在连接测试电路和电路元件的连线中，测试电路装有传递测试结果的输出电路，在测试电路元件时，测试电路除电源线外没其它连线，自测试是利用测试电路的中央单元比较实际和期望值来判别元件合格与否，并顺时地确定其功能度。
基本信息
专利标题 ：
用于测试集成电路元件的电路结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN86105604A
申请号 ：
CN86105604.3
公开（公告）日 ：
1987-02-11
申请日 ：
1986-07-24
授权号 ：
CN1011085B
授权日 ：
1991-01-02
发明人 ：
海因茨·克鲁格
申请人 ：
海因茨·克鲁格
申请人地址 ：
荷兰弗罗德罗普第二十四站默鲁学院
代理机构 ：
中国专利代理有限公司
代理人 ：
吴增勇
优先权 ：
CN86105604.3
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2002-03-13 ：
专利权的终止专利权有效期届满
1991-09-11 ：
授权
1991-01-02 ：
审定
1987-02-11 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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