测试电路及电路测试方法
授权
摘要
本发明提供一种测试电路，包括：若干级联的锁存器，第一个锁存器的D端与测试信号源通信连接，除第一个锁存器外的锁存器的D端与上一级锁存器的Q端通信连接；各锁存器的Q端与待测试电路的测试接口通信连接；各所述锁存器采用相同的时钟信号、时钟使能信号和复位信号。还提供一种电路测试方法，采用上述的测试电路，控制复位信号由高电平变为低电平，将各锁存器复位；控制使能信号源输出高电平；控制所述测试信号源输出预定信号；控制使能信号源输出低电平，将各所述锁存器的Q端锁定；将各锁存器的Q锁定的值输入待测试电路进行测试。本发明的测试电路及电路测试方法，免去了重新上电配置的过程，提高了测试效率。
基本信息
专利标题 ：
测试电路及电路测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111157881A
申请号 ：
CN202010008115.0
公开（公告）日 ：
2020-05-15
申请日 ：
2020-01-03
授权号 ：
CN111157881B
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
蒲迪锋
申请人 ：
深圳市紫光同创电子有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区高新南一道015号国微研发大楼401
代理机构 ：
北京兰亭信通知识产权代理有限公司
代理人 ：
陈晓瑜
优先权 ：
CN202010008115.0
主分类号 ：
G01R31/319
IPC分类号 ：
G01R31/319
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/319
••••测试器硬件，即输出处理电路
法律状态
2022-05-31 ：
授权
2020-06-09 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/319
申请日 : 20200103
申请日 : 20200103
2020-05-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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