电迁移测试电路、测试装置和方法
实质审查的生效
摘要

本申请提供了一种电迁移测试电路,包括测试模块、数据采集模块及控制模块,其中,测试模块用于根据输出控制信号对待测样品施加预设参数的测试信号;数据采集模块与测试模块连接,用于根据开关动作信号动作,控制待测样品接入对应的测试回路,并采集待测样品的电迁移试验参数信息;控制模块,与测试模块及数据采集模块均连接,用于根据接收的测试触发信号生成输出控制信号,以控制测试模块生成测试信号;及/或根据测试触发信号生成开关动作信号,以控制数据采集模块动作,使待测样品接入对应的测试回路。上述测试电路中,基于控制模块与数据采集模块生成待测样品的寿命预测方程,能相对准确的评估样品使用寿命,大大提高了测试效率。

基本信息
专利标题 :
电迁移测试电路、测试装置和方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114371384A
申请号 :
CN202111575063.6
公开(公告)日 :
2022-04-19
申请日 :
2021-12-21
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
付志伟肖庆中徐及乐杨晓锋陈思周斌黄云路国光
申请人 :
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
申请人地址 :
广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
代理机构 :
华进联合专利商标代理有限公司
代理人 :
虞凌霄
优先权 :
CN202111575063.6
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-06 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20211221
2022-04-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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