测试电路
实质审查的生效
摘要
本公开的实施例涉及测试电路。本公开提供了一种测试电路和用于测试集成电路的方法。集成电路包括测试电路。测试电路包括在集成电路周界的至少一部分之上延伸的导电轨、至少一个部件和适于在测试模式期间将输入数据信号偏离到导电轨的激活电路，以及适于在正常操作模式期间将所述输入数据信号传输到所述至少一个组件。
基本信息
专利标题 ：
测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114373692A
申请号 ：
CN202111162449.4
公开（公告）日 ：
2022-04-19
申请日 ：
2021-09-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
F·塔耶特
申请人 ：
意法半导体(鲁塞)公司
申请人地址 ：
法国鲁塞
代理机构 ：
北京市金杜律师事务所
代理人 ：
董莘
优先权 ：
CN202111162449.4
主分类号 ：
H01L21/66
IPC分类号 ：
H01L21/66
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/66
在制造或处理过程中的测试或测量
法律状态
2022-05-06 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 21/66
申请日 : 20210930
申请日 : 20210930
2022-04-19 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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