集成电路测试装置

授权

摘要

本实用新型提供了一种集成电路测试装置，包括控制模块、电源管理模块、测试板、专用模块和通用模块，其中，所述控制模块分别与电源管理模块、专用模块和通用模块连接，用于控制各模块根据相应指令执行相应操作；所述电源管理模块分别与控制模块、测试板连接，用于专用模块的供电；所述测试板与电源管理模块和专用模块连接，为针对不同测试工序专用的不同测试板；所述专用模块分别与控制模块、测试板和通用模块连接，用于配置待测试芯片的必要外围电路；所述通用模块分别与专用模块和控制模块连接，用于配置待测试芯片的通用电路。该测试装置不需要定制不同的专用测试电路板，设计成本低，且无需频繁插拔或焊接待测试芯片，减少引脚损伤风险。

基本信息

专利标题：

集成电路测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020298026.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-03-11

授权号：

CN211905590U

授权日：

2020-11-10

发明人：

陈尚立谢林庭

申请人：

深圳市中科蓝讯科技股份有限公司

申请人地址：

广东省深圳市南山区沙河街道高发社区侨香路智慧广场A栋2102

代理机构：

代理人：

优先权：

CN202020298026.X

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28