一种集成电路测试卡，包含有：一电路板，具有若干的接触焊点及若干贯通的弹簧容置孔；一探针组件，具有一电讯转接板及若干的探针，该电讯转接板可界定出一第一电讯面及一与该第一电讯面电气导通的第二电讯面，该各探针设于该第一电讯面上，且该第二电讯面与该电路板的接触焊点电气导通；一弹性承载组件，具有一固定板、一锁接板、一扣板及若干的弹簧，该固定板与该锁接板固接并扣接于该电讯转接板的第一电讯面上，该锁接板形成有若干的锁孔，该扣板形成有若干与该锁孔对应的穿扣孔，该扣板置于该锁接板与该电路板间，使该穿扣孔与该锁孔及该弹簧容置孔连通，该各弹簧分别置位于各弹簧容置孔中，使该电讯转接板可由该弹簧的弹性力而被均匀地扣压定位，并由该弹簧吸收扣接该电讯转接板时所产生的倾斜位置变异。