集成电路测试系统
授权
摘要
本申请提供一种集成电路的测试系统，包括：测试单元；以及，射频单元，电性耦接于测试单元，包括射频模块，射频模块外置并电性耦接于测试单元。解决了现有技术中，由于射频ATE测试机台成本高，复杂程度高的问题。
基本信息
专利标题 ：
集成电路测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921060390.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-08
授权号 ：
CN210007709U
授权日 ：
2020-01-31
发明人 ：
张悦
申请人 ：
合肥悦芯半导体科技有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市经济区天门路以西锦绣大道以南天门湖工业园1幢厂房
代理机构 ：
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
丁睿
优先权 ：
CN201921060390.6
主分类号 ：
H04B17/15
IPC分类号 ：
H04B17/15 H04B17/29
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法律状态
2020-01-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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