一种集成电路测试系统
专利权的终止
摘要
一种集成电路测试系统,由上位控制机、背板接口电路、双独立总线电路和待测集成电路接口装置构成,背板接口电路上连接有电源,双独立总线电路与待测集成电路接口装置连接,背板接口电路与双独立总线电路之间连接有接口电路板,接口电路板与所述的上位控制机连接,背板接口电路与双独立总线电路之间还至少连接有一个功能测试电路板。接口电路板通过PCI总线与上位控制机连接。本实用新型将测试集成电路所需的全部资源集成在一台设备内,通过后台软件来管理这些资源,将用户的测试需求通过软件转换成测试程序。自动完成资源的分配和使用,实现集成电路参数的测试。解决了现有技术中集成电路测试装置测试频率低、系统资源有限和并行测试能力弱的技术问题。
基本信息
专利标题 :
一种集成电路测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820150812.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-07-15
授权号 :
CN201215580Y
授权日 :
2009-04-01
发明人 :
包智杰毛国梁张书恒
申请人 :
上海宏测半导体科技有限公司
申请人地址 :
200001上海市黄浦区北京东路668号B区604室
代理机构 :
上海世贸专利代理有限责任公司
代理人 :
严新德
优先权 :
CN200820150812.4
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2018-08-07 :
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20080715
授权公告日 : 20090401
申请日 : 20080715
授权公告日 : 20090401
2009-04-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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