集成电路测试卡

发明专利申请公布后的视为撤回

摘要

一种集成电路测试卡，包含有：一电路板，具有若干个讯号接点；一探针组件，具有一电讯转接板及若干置设于该电讯转接板上的探针，且该各探针与该讯号接点电气连接；若干平面维持组件，分别具有一抵撑件及一锁固单元；该各抵撑件分别穿经于该电路板预定的位置而以其一端与电讯转接板抵接，该锁固单元夹固于该抵撑件的另一端，使可由该锁固单元对该抵撑件的夹固，而维持该探针组件与该电路板间的水平度。

基本信息

专利标题：

集成电路测试卡

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN101021548A

申请号：

CN200610003589.6

公开（公告）日：

2007-08-22

申请日：

2006-02-15

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

范宏光林燊一

申请人：

旺矽科技股份有限公司

申请人地址：

台湾省新竹县

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司

代理人：

周长兴

优先权：

CN200610003589.6

主分类号：

G01R1/073

IPC分类号：

G01R1/073 G01R1/02 G01R31/28 H01L21/66