探针及集成电路测试设备
授权
摘要
本实用新型提出一种探针及集成电路测试设备，所述探针包括由上到下依次设置的第一接触段、连接段和第二接触段，所述第一接触段上端用于连接测试IC，所述第二接触段下端用于连接测试PCB；所述探针为弹性件，且所述探针具有初始位置和形变位置；其中，所述第二接触段或者所述连接段呈C形件设置，所述C形件缺口处设置有第一自由端和第二自由端，当所述探针处于初始位置时，所述第一自由端和所述第二自由端存在间隙；当所述探针处于形变位置时，所述第一自由端和所述第二自由端接触。如此，本实用新型解决了现有技术中，集成电路测试用探针存在阻抗较大的问题。
基本信息
专利标题 ：
探针及集成电路测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122292198.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-09-22
授权号 ：
CN216411479U
授权日 ：
2022-04-29
发明人 ：
段超毅蒋伟周闯
申请人 ：
深圳凯智通微电子技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区福永街道稔田社区稔田工业区第14栋第二层
代理机构 ：
深圳市恒程创新知识产权代理有限公司
代理人 ：
张小容
优先权 ：
CN202122292198.3
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/067 G01R1/073
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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