一种集成电路探针测试架
授权
摘要
本实用新型公开了一种集成电路探针测试架，包括底板，所述底板上固定安装有测试架，所述测试架的下方设有活动安装在底板上的底座，所述底座的顶部转动安装有拖台盘，所述底座与测试架之间设有X轴移动机构和Y轴移动机构，所述测试架的顶部中心设有测试通孔，所述测试通孔的外部同轴安装有环形的轨道，所述轨道上滑动安装有至少一个可伸入测试通孔的探针组件。本实用新型通过设置X轴移动机构和Y轴移动机构，从而带动底座沿前后、左右移动，进而带动托盘台移动，托盘台转动安装在底座上，从而实现360°旋转，提高测试电路的放置位置的灵活性；通过在测试架上设置轨道，便于移动探针组件的位置，满足不同类型的芯片及PCB板性能测试的需求。
基本信息
专利标题 ：
一种集成电路探针测试架
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123398364.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-31
授权号 ：
CN216747982U
授权日 ：
2022-06-14
发明人 ：
孙瑞锋吴佳周艳
申请人 ：
常州市华诚常半微电子有限公司
申请人地址 ：
江苏省常州市长江中路285号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202123398364.4
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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