一种集成电路测试探针卡的改良结构，该探针卡内部电路板的至少一侧表面设有凸部，该凸部表面设有数内接点，而该电路板的另一侧表面则设有数外接点，且于电路板内设有导电线路衔接于各内、外接点之间，使各外接点可经由导线与外部的测试电路形成电连接；该电路板于临凸部的一侧可另经由一固定环垫结合一探针固定装置，该固定环垫上设有一镂空部结合于该凸部周围，而探针固定装置则可夹持复数探针的一端，以利于与各内接点接触，且各探针的另一端与待测试的集成电路芯片各接脚稳定抵触而形成电连接，其结构简易、成本低廉且电路讯号传输质量佳。