集成电路测试用组合探针

专利申请权、专利权的转移

摘要

本发明涉及一种集成电路测试用组合探针，包括单头探针(1)和端子(2)；该单头探针(1)包括头部(13)和尾部管身(12)，该管身(12)内腔装有弹簧，头部(13)插入管身(12)内腔并可相对管身(12)运动；所述端子(2)上部为空心，内壁设置夹紧部，单头探针(1)的任意一端插入端子(2)中并被所述夹紧部夹住；单头探针(1)的未插入所述端子(2)的一端用于与待测试的集成电路或测试电路板电连接，相应地，所述端子(2)的尾端(21)则用于与测试电路板电连接或待测试的集成电路电连接。同现有技术相比较，本发明的技术效果在于：不仅可以测试脚距小的集成电路，且成本低，维修方便，维修成本低；使用时产生的阻抗、容抗或感抗都很低。

基本信息

专利标题：

集成电路测试用组合探针

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1808127A

申请号：

CN200610033402.7

公开（公告）日：

2006-07-26

申请日：

2006-01-25

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

段超毅

申请人：

段超毅

申请人地址：

518101广东省深圳市宝安区世外桃园二区二栋805

代理机构：

深圳睿智专利事务所

代理人：

陈鸿荫

优先权：

CN200610033402.7

主分类号：

G01R1/067

IPC分类号：

G01R1/067 G01R1/02 G01R31/26 G01R31/28 H01L21/66