探针及集成电路测试设备
授权
摘要
本实用新型提出一种探针及集成电路测试设备，所述探针包括由上到下依次设置的第一接触段、连接段和第二接触段，所述第一接触段上端用于接触测试IC，所述第二接触段下端用于接触测试PCB；所述第一接触段、所述连接段、所述第二接触段一体化设置，所述连接段在竖直方向上可发生弹性形变。如此，本实用新型解决了现有技术中阻抗较大，各探针之间阻抗一致较差、装配成本较高的问题。
基本信息
专利标题 ：
探针及集成电路测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122292924.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-09-22
授权号 ：
CN216411366U
授权日 ：
2022-04-29
发明人 ：
段超毅蒋伟周闯
申请人 ：
深圳凯智通微电子技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区福永街道稔田社区稔田工业区第14栋第二层
代理机构 ：
深圳市恒程创新知识产权代理有限公司
代理人 ：
张小容
优先权 ：
CN202122292924.1
主分类号 ：
G01R1/067
IPC分类号 ：
G01R1/067 G01R1/073 G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线；测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2022-04-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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