本实用新型公开了一种集成电路测试探针及相应的测试装置，包含测试箱、压合组件及探针组件，所述测试箱的上表面一侧设有压合组件，且测试箱中等距地固定安装有探针组件，所述测试箱的一侧对称地固定安装有具有自动止停结构的夹持组件，本实用新型针对夹持位置的调整方式作出了改进，利用卡条的卡接控制齿条的逐齿滑动和有效防松动，在保证调节精度的同时，在调节完成后不容易松动，避免了采用电气驱动结构带来的装置复杂，体积庞大，成本较高的一系列不适用的问题，另外转移组件中导通环的设置，可以将电路的传输由内部转移到两侧，避免经过第二弹簧，实现良好的导通性，提高探针组件通过高频信号的能力。