集成电路测试头
授权
摘要
1.本外观设计产品的名称：集成电路测试头。2.本外观设计产品的用途：用于安装集成电路各类测试用仪器、测试接口板及相关线缆。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。
基本信息
专利标题 ：
集成电路测试头
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202130799931.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-03
授权号 ：
CN307316524S
授权日 ：
2022-05-06
发明人 ：
田楠周欣萍周静陈海波冯建呈闫丽琴
申请人 ：
北京航天测控技术有限公司
申请人地址 ：
北京市石景山区实兴东街3号1-8号楼
代理机构 ：
北京华夏泰和知识产权代理有限公司
代理人 ：
韩来兵
优先权 ：
CN202130799931.3
主分类号 ：
14-99
IPC分类号 ：
14-99
法律状态
2022-05-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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