QFN集成电路测试分选机测试单元装置

避免重复授权放弃专利权

摘要

本实用新型涉及一种QFN集成电路测试分选机测试单元装置包括推送气缸组件(1)、测试主座组件(2)、测试吸嘴座组件(3)、金手指固定座(4)、挡料组件(5)、测试流道组件(6)、滑轨组件(7)、旋转块组件(8)、光电开关组件(9)和定位气缸组件(10)，推送气缸组件(1)包括推送气缸(1.1)、推送气缸固定座(1.2)、浮动接头(1.3)、连动杆(1.4)和支撑杆(1.5)，测试吸嘴座组件(3)包括测试吸嘴座(3.1)和定位夹爪(3.3)，挡料组件(5)包括挡料气缸(5.1)、挡料块(5.2)和挡料盖板(5.3)，测试流道组件(6)包括测试流道(6.1)和测试旋转块(6.3)，滑轨组件(7)包括滑轨支撑座(7.1)、滑轨块固定座(7.2)、滑轨块(7.3)和滑轨(7.4)，旋转块组件(8)包括旋转块I(8.1)和旋转块II(8.5)。本装置能让测试更稳定更准确。

基本信息

专利标题：

QFN集成电路测试分选机测试单元装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820032962.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-03-14

授权号：

CN201177651Y

授权日：

2009-01-07

发明人：

王新潮曾坤灿陈子文沈幸福丁峰华李亚峰徐建春吴忠其

申请人：

江阴新基电子设备有限公司

申请人地址：

214434江苏省江阴市滨江开发区长山路2号

代理机构：

江阴市同盛专利事务所

代理人：

唐纫兰

优先权：

CN200820032962.5

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 B07C5/344