集成电路分选机及分选系统
授权
摘要
一种集成电路分选机及分选系统，所述集成电路分选机包括：分选机控制器；测试座，用于放置被测芯片，所述测试座具有多个测试引脚；以及开短路测试模块，与所述测试座的多个测试引脚的至少一部分电连接，所述开短路测试模块在所述分选机控制器的控制下对所述被测芯片进行开短路测试，并将测试结果发送至所述分选机控制器。本实用新型实施例的方案能够降低开短路测试的成本，提高测试效率。
基本信息
专利标题 ：
集成电路分选机及分选系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202121446457.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-06-28
授权号 ：
CN216718593U
授权日 ：
2022-06-10
发明人 ：
金浩
申请人 ：
绍兴网策科技有限公司
申请人地址 ：
浙江省绍兴市柯桥区越州大道958号浙江工业大学之江学院科创楼内315、317房间
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
张振军
优先权 ：
CN202121446457.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R31/54 G01R31/52 B07C5/344
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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