本实用新型公开了一种集成电路分选机，其包括机架和降温装置，机架设置有载料治具和测试手臂，载料治具用于放置芯片，测试手臂用于对放置在载料治具上的芯片进行测试；降温装置包括第一降温支架、第二降温支架以及分别安装在第一降温支架和第二降温支架的第一风扇和第二风扇，第一降温支架和第二降温支架可拆卸地安装在机架上，第一风扇的出风口朝向载料治具，第二风扇的出风口用于朝向测试手臂，第一风扇和第二风扇分别用于降低载料治具和测试手臂的温度，能够有效地缩短降温时间，使得测试手臂和载料治具能够快速地恢复至常温，进而提升生产效率。