本实用新型公开一种集成电路测试分选机，其包括机体，所述机体上表面设有传送带，传送带两端设有传动轴，传动轴连接有电机，所述传送带末端设有良品放置槽，所述机体上设有控制台，所述控制台与机体一侧边固定，所述机体下端设有多个支撑脚；分选器，所述分选器包括壳体、次品检测器和推动装置，所述壳体横跨机体且与机体固定连接，所述次品检测器设于壳体内上端，所述推动装置设于壳体与机体的连接处，所述次品检测器、推动装置与控制台之间电性连接。本实用新型通过次品检测器、推动装置与控制台之间的配合就能实现自动分选，结构简单，故障后便于维修，生产成本和维修成本较低，且提高了工作效率，还能保证集成电路测试分选准确性。