集成电路测试装置
专利权的终止
摘要
本发明的目的在于实现一种可以缩短测试时间的集成电路测试装置，且改进了对输出多梯级电压的被测试对象进行测试的集成电路测试装置。本装置包含：A/D转换器(模拟/数字转换器)，输入被测试对象的输出；存储器，储存该A/D转换器。
基本信息
专利标题 ：
集成电路测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1760689A
申请号 ：
CN200510106799.3
公开（公告）日 ：
2006-04-19
申请日 ：
2005-10-12
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
横须贺拓也
申请人 ：
横河电机株式会社
申请人地址 ：
日本东京都
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
蒲迈文
优先权 ：
CN200510106799.3
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2011-01-05 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101029352429
IPC(主分类) : G01R 31/28
专利号 : ZL2005101067993
申请日 : 20051012
授权公告日 : 20090304
终止日期 : 20091112
号牌文件序号 : 101029352429
IPC(主分类) : G01R 31/28
专利号 : ZL2005101067993
申请日 : 20051012
授权公告日 : 20090304
终止日期 : 20091112
2009-03-04 ：
授权
2006-06-07 ：
实质审查的生效
2006-04-19 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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