测试电路
授权
摘要
一种测试电路，所述测试电路包括：包括门极，负极和正极的晶闸管；交流电压源，在第一回路中与所述晶闸管串接，配置在第一时间段向所述晶闸管的正极和负极之间施加交流电压；以及直流电流源，在第二回路中与所述晶闸管串接，配置为在第二时间段向所述晶闸管的门极和负极之间施加直流电流，其中第一时间段和第二时间段交替周期性排布。
基本信息
专利标题 ：
测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922096960.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-28
授权号 ：
CN211478483U
授权日 ：
2020-09-11
发明人 ：
范以训陈恩灵
申请人 ：
力特半导体（无锡）有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市新区硕放振发六路3号
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
方丁一
优先权 ：
CN201922096960.3
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-09-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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