测试电路及具有该测试电路的显示装置
专利权的终止
摘要
一种测试电路和能够容易且精确的确定缺陷是否存在以及是否存在有缺陷的点的测试方法。本发明的测试电路具有多个移位寄存器，多个门闩电路，多个第一NOR电路，多个第二NOR电路，多个第一NAND电路，多个第二NAND电路，以及多个反相器。象素区域内提供的多条源极信号线分别连接于多个门闩电路，并且由最后一级的反相器输出测试输出信号。
基本信息
专利标题 ：
测试电路及具有该测试电路的显示装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1801264A
申请号 ：
CN200510136381.7
公开（公告）日 ：
2006-07-12
申请日 ：
2005-12-06
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
野泽亮
申请人 ：
株式会社半导体能源研究所
申请人地址 ：
日本神奈川县
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
王岳
优先权 ：
CN200510136381.7
主分类号 ：
G09G3/00
IPC分类号 ：
G09G3/00 G01R31/00 G01M11/00 G02F1/13
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G09
教育；密码术；显示；广告；印鉴
G09G
对用静态方法显示可变信息的指示装置进行控制的装置或电路传输数据的装置在数字计算机与显示器之间入G06F3/14；由若干分离源或光控的光电池结合而成的静态指示装置入G09F9/00；由若干光源的组合而构成的静态的指示装置入H01J，H01K，H01L，H05B33/12；文件或者类似物的扫描、传输或者重现，如传真传输，其零部件入H04N1/00）
G09G3/00
仅考虑与除阴极射线管以外的目视指示器连接的控制装置和电路
法律状态
2018-11-23 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G09G 3/00
申请日 : 20051206
授权公告日 : 20090722
终止日期 : 20171206
申请日 : 20051206
授权公告日 : 20090722
终止日期 : 20171206
2009-07-22 ：
授权
2008-01-16 ：
实质审查的生效
2006-07-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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