测试结构和电路测试板
授权
摘要
本公开提供了一种测试结构和电路测试板，涉及半导体测试技术领域。本公开提供的测试结构和电路测试板，包括多个沿设定方向设置的测试区域，每个测试区域分别包括多条引线，位于同一测试区域的多条引线沿所处测试区域的中心线对称布置，且在所处测试区域中呈类三角形分布，如此设置，使得一个测试结构中整合有不同封装尺寸的产品的测试位置，进而一个测试结构能够对不同封装尺寸的产品进行测试，成本较低。
基本信息
专利标题 ：
测试结构和电路测试板
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921437418.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-30
授权号 ：
CN211293146U
授权日 ：
2020-08-18
发明人 ：
贺全
申请人 ：
甬矽电子(宁波)股份有限公司
申请人地址 ：
浙江省宁波市余姚市中意宁波生态园兴舜路22号
代理机构 ：
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
肖苏宸
优先权 ：
CN201921437418.3
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-08-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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