UIS测试电路
授权
摘要
本申请提供了一种UIS测试电路，包括：电感、可控恒压钳流电路、驱动电路和时序控制电路。所述电感的第一端用于电连接待测可控开关管的第一端。所述可控恒压钳流电路的第一端与所述电感的第二端电连接。所述驱动电路的第一端用于与所述待测可控开关管的控制端电连接。所述驱动电路的第二端和所述可控恒压钳流电路的第二端均用于与所述待测可控开关管的第二端共接。所述时序控制电路分别与所述驱动电路的第三端和所述可控恒压钳流电路的第三端电连接。所述时序控制电路用于通过所述驱动电路控制所述待测可控开关管的导通与断开。
基本信息
专利标题 ：
UIS测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020927302.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-28
授权号 ：
CN212693954U
授权日 ：
2021-03-12
发明人 ：
毛怀宇王朝刘惠鹏
申请人 ：
北京华峰测控技术股份有限公司
申请人地址 ：
北京市丰台区海鹰路1号院2号楼7层
代理机构 ：
北京华进京联知识产权代理有限公司
代理人 ：
樊春燕
优先权 ：
CN202020927302.4
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/36
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-03-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN212693954U.PDF
PDF下载
