时钟门控控制电路及芯片测试电路
公开
摘要
本发明涉及一种时钟门控控制电路，其用于控制被测电路的多个被测电路部分的时钟输入。该电路包括M个译码器、多个时钟门控电路块、输出功能逻辑信号的功能逻辑电路块和L个控制模块。每个译码器接收并译码N位二进制输入，生成L位二进制译码并输出对应于L位二进制译码的L个译码子信号；每个时钟门控电路块用于控制一个或多个被测电路部分的时钟输入；每个控制模块根据外部输入的使能控制信号、M个译码子信号和功能逻辑信号来使能或禁用一个或多个时钟门控电路块，其中，M个译码子信号由M个译码器中的每个译码器各自提供一个译码子信号而组成，并且其中，M、N和L均为正整数。根据本发明，还能够提供一种芯片测试电路。
基本信息
专利标题 ：
时钟门控控制电路及芯片测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114563694A
申请号 ：
CN202210332010.X
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2022-03-31
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
王泽坤黄现管逸
申请人 ：
上海韬润半导体有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区自由贸易试验区亮秀路112号B座603A、603B室
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
臧霁晨
优先权 ：
CN202210332010.X
主分类号 ：
G01R31/3185
IPC分类号 ：
G01R31/3185 G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
G01R31/08
探测电缆、传输线或网络中的故障
G01R31/14
所用的电路
G01R31/315
使用电感法
G01R31/3185
测试的重新配置，例如LSSD，划分
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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