一种芯片供电电路测试结构及测试系统
授权
摘要
本发明提供了一种芯片供电电路测试结构及测试系统，测试结构包括转接板、功率负载板和控制板。转接板与待测芯片供电电路插接连接。功率负载板与转接板插接连接，待测芯片供电电路通过转接板将待测信号传输至功率负载板；功率负载板上设置有功率器件和采集电路。控制板与功率负载板电连接，控制板上设置有驱动控制电路和接收处理电路。驱动控制电路用于产生驱动控制信号，该驱动控制信号用于控制功率负载板根据待测信号进行工作。接收处理电路与采集电路电连接，以接收采集电路所采集的待测信号，并对信号进行处理。提升测试负载功率和动态抽电流性能，减小测试工具的体积。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片供电电路测试结构及测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123218399.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-20
授权号 ：
CN216622603U
授权日 ：
2022-05-27
发明人 ：
张腾杨晓君柳胜杰袁飞李晶晶
申请人 ：
海光信息技术股份有限公司
申请人地址 ：
天津市滨海新区华苑产业区海泰西路18号北2-204工业孵化-3-8
代理机构 ：
北京兰亭信通知识产权代理有限公司
代理人 ：
赵永刚
优先权 ：
CN202123218399.5
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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