芯片拉电流测试电路

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摘要

本实用新型公开了一种芯片拉电流测试电路，该电路包括单片机、恒流源电路、引脚选择电路、电源管理单元及用于连接待测试芯片的芯片座，所述单片机分别与恒流源电路及引脚选择电路连接，所述单片机还与电源管理单元连接并通信，所述引脚选择电路分别与恒流源电路、电源管理单元及芯片座连接。本实用新型的芯片拉电流测试电路通过单片机控制恒流源电路设定拉电流的大小，并控制引脚选择电路选择待测试引脚，通过电源管理单元判断待测试芯片的待测试引脚在输出拉电流时，引脚电压是否大于设定电压，从而判断测试芯片的引脚的拉电流是否合规，该电路具有结构简单、成本低、测试效率及稳定性高的特点。

基本信息

专利标题：

芯片拉电流测试电路

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921445437.0

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-09-02

授权号：

CN210690752U

授权日：

2020-06-05

发明人：

禹乾勋

申请人：

深圳市华力宇电子科技有限公司

申请人地址：

广东省深圳市宝安区航城街道黄田社区黄田杨贝工业区一期4栋201、301、402

代理机构：

深圳市宏德雨知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

李捷

优先权：

CN201921445437.0

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28