运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路
授权
摘要
本申请提供了一种运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路，运用于芯片测试技术领域，通过单片机主控电路与PC端连接；电源模块分别与单片机主控电路、ADC模块、恒流恒压源模块、第一开关切换电路和第二开关切换电路电连接；恒流恒压源模块与单片机主控电路连接；ADC模块分别与恒流恒压源模块和单片机主控电路连接；第一开关切换电路分别与ADC模块连接和单片机主控电路连接；第二开关切换电路分别与第一开关切换电路、单片机主控电路与待测芯片插座连接，实现在同一电路设备中进行自动化的开短路测试与漏电流测试，通过无需移动芯片对芯片上的各引脚进行测试，提升了测试效率以及准确性。
基本信息
专利标题 ：
运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022110896.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-23
授权号 ：
CN214473744U
授权日 ：
2021-10-22
发明人 ：
梁淑怡陈建光陈宗廷李斌
申请人 ：
深圳市宏旺微电子有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区沙河街道华侨城创意文化园开平街2号G2栋2楼
代理机构 ：
深圳市诺正鑫泽知识产权代理有限公司
代理人 ：
林国友
优先权 ：
CN202022110896.2
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R31/52
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-10-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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