芯片开短路测试装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种芯片开短路测试装置。所述装置包括：开关切换模块(1)，连接至芯片(6)的N个待测引脚，N为大于1的整数；控制模块(2)，连接至开关切换模块(1)，控制开关切换模块(1)依次接通N个待测引脚；恒流源模块(3)，连接至开关切换模块(1)，为开关切换模块(1)接通的待测引脚提供测试电流。利用开关切换模块依次接通芯片的待测引脚以进行开短路测试，提高了测试灵活性，并且能够自动实现所有引脚的开短路测试，降低人工操作成本。
基本信息
专利标题 ：
芯片开短路测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020748108.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-08
授权号 ：
CN212275891U
授权日 ：
2021-01-01
发明人 ：
周武林
申请人 ：
江西联智集成电路有限公司
申请人地址 ：
江西省南昌市南昌高新技术产业开发区创新一路59号
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
周天宇
优先权 ：
CN202020748108.X
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R31/52 G01R31/54 G01R31/58
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-01-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
