一种微小电流测试电路及微小电流测试装置

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摘要

本实用新型公开了一种微小电流测试电路及微小电流测试装置，所述微小电流测试电路，包括：第一高阻运算放大器和至少一组负反馈电阻电路；所述第一高阻运算放大器的同相输入端连接参考电位点IMCOM，所述参考电位点与程控电源VIS连接；所述第一高阻运算放大器的反相输入端连接被测元器件，所述第一高阻运算放大器的同、反相输入端虚短连接；所述至少一组负反馈电阻电路连接在第一高阻运算放大器的反相输入端与输出端之间，形成负反馈通路。微小电流测试电路测量精度高、稳定性好，能够实现纳安级和皮安级的微小电流测量，解决了场效应晶体管型的电子元器件的微小电流测量精度低、稳定性差等问题，实现偏置电流或漏电流的准确、有效的测量。

基本信息

专利标题：

一种微小电流测试电路及微小电流测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920482204.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-04-10

授权号：

CN210534216U

授权日：

2020-05-15

发明人：

乔晖南浩李强

申请人：

北京励芯泰思特测试技术有限公司

申请人地址：

北京市海淀区北三环中路31号泰思特大厦1号楼

代理机构：

北京思格颂知识产权代理有限公司

代理人：

潘珺

优先权：

CN201920482204.1

主分类号：

G01R19/00

IPC分类号：

G01R19/00 G01R1/30 G01R31/28