一种集成电路漏电流测试电路及装置

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摘要

本申请涉及微电子控制技术领域，特别地，涉及一种集成电路漏电流测试电路及装置。一定程度上可以解决集成电路管脚漏电流测试中采样电阻两端信号与测试电路不能隔离，导致漏电流测试结果的误差大、可靠性降低的问题。所述集成电路漏电流测试电路，包括：处理器，被配置发送控制信号至DAC电路、管脚配置电路，并接收来自测试电路的漏电流测试电压信号；管脚配置电路，根据来自处理器的控制信号，为集成电路的待测管脚选择输入信号电路；DAC电路，根据来自处理器的控制信号，为所述输入信号电路提供电平信号、测试信号；测试电路，耦合至所述处理器与所述管脚配置电路，根据接收的电平信号、测试信号输出漏电流测试电压信号至所述处理器。

基本信息

专利标题：

一种集成电路漏电流测试电路及装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020454907.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-04-01

授权号：

CN213069126U

授权日：

2021-04-27

发明人：

张红芹宋陈平翟建波

申请人：

乐普医学电子仪器股份有限公司

申请人地址：

陕西省宝鸡市渭滨区英达路18号楼1层1号

代理机构：

北京弘权知识产权代理有限公司

代理人：

逯长明

优先权：

CN202020454907.6

主分类号：

G01R31/52

IPC分类号：

G01R31/52 G01R31/28