芯片测试模式切换电路
授权
摘要
本实用新型提供了一种芯片测试模式切换电路，包括：寄存器模块，所述寄存器模块的第一端与KEY端电连接，所述寄存器模块的第二端与LATCH端电连接，所述寄存器模块的第三端与XRSn端电连接；测试模式使能信号发生器，所述测试模式使能信号发生器的第一端与所述寄存器模块的第四端电连接；信号切换模块，所述信号切换模块的第一端与所述测试模式使能信号发生器的第二端电连接，所述信号切换模块的第二端输入第一信号，所述信号切换模块的第三端输出第二信号。本实用新型所提供的芯片测试模式切换电路，在不增加芯片端口的情况下，有效的隔离了测试模式和正常工作模式，使得测试模式和正常工作模式能够独立工作互不干扰，防止了芯片误进入测试模式。
基本信息
专利标题 ：
芯片测试模式切换电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021482019.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-24
授权号 ：
CN213069089U
授权日 ：
2021-04-27
发明人 ：
刘杨张巍张锋吴修英易峰
申请人 ：
湖南进芯电子科技有限公司
申请人地址 ：
湖南省长沙市高新开发区尖山路39号长沙中电软件园总部大楼10楼1002-1010室
代理机构 ：
长沙轩荣专利代理有限公司
代理人 ：
丛诗洋
优先权 ：
CN202021482019.1
主分类号 ：
G01R31/317
IPC分类号 ：
G01R31/317 G01R31/3183 G01R31/3181
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/317
••数字电路的测试
法律状态
2021-04-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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