本申请实施例涉及一种芯片测试模式切换方法及系统，应用于芯片中的监测单元，方法包括通过第一功能引脚获取测试模式数据并将测试模式数据与预设置的第一数据进行匹配；匹配成功后通过第二功能引脚接收测试模式选择数据并解析，得到测试模式选择类型数据以及根据测试模式选择类型数据引导芯片进入对应的测试模式；在芯片进入到测试模式后，监测单元由开启状态转为关闭状态，测试完成后，监测单元由关闭状态转为开启状态，第一功能引脚和第二功能引脚可以复用为测试模式下的测试引脚。本申请实施例提供的芯片测试模式切换方法及系统，能够在不增加芯片引脚的前提下使芯片能够准确的进入到测试模式并能够在测试模式中稳定运行。