芯片扫描链测试模式切换电路

授权

摘要

本实用新型提供了一种芯片扫描链测试模式切换电路，包括：边界扫描测试接口，所述边界扫描测试接口的第一端为测试数据输出端，所述边界扫描测试接口的第二端为测试数据输入端，所述边界扫描测试接口的第三端为测试复位端，所述边界扫描测试接口的第四端为测试模式选择端，所述边界扫描测试接口的第五端为测试时钟端。本实用新型所提供的芯片扫描链测试模式切换电路，通过配置指令寄存器和数据寄存器进入扫描链测试模式，提高了芯片的安全性，在不增加芯片端口的情况下，通过配置数据寄存器实现扫描链由多链模式切换为单链模式，增加了扫描链测试模式的进入难度，防止了黑客通过扫描链攻击芯片，节省了芯片在调试时所需的端口资源。

基本信息

专利标题：

芯片扫描链测试模式切换电路

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021656391.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-08-11

授权号：

CN213069090U

授权日：

2021-04-27

发明人：

李昌盛易峰刘杨张巍

申请人：

湖南进芯电子科技有限公司

申请人地址：

湖南省长沙市高新开发区尖山路39号长沙中电软件园总部大楼10楼1002-1010室

代理机构：

长沙轩荣专利代理有限公司

代理人：

张勇

优先权：

CN202021656391.X

主分类号：

G01R31/3185

IPC分类号：

G01R31/3185