ADC芯片测试电路和设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种ADC芯片测试电路和设备，包括计数器；数据比较模块，分别与计数器和待测芯片连接，控制端连接有第一预处理模块，第一预处理模块与计数器连接，数据比较模块连接有第二预处理模块，第一预处理模块用于检测数字码的极值并给所述数据比较模块发送补位使能信号，第二预处理模块用于保持数据比较模块的输出信号稳定；积分控制模块，与第二预处理模块连接；DAC模块，与计数器连接；幅值衰减模块，分别与积分控制模块和DAC模块连接，输出端用于与待测芯片的输入端连接；时钟模块，分别与第二预处理模块、DAC模块和待测芯片的时钟信号端连接。利用成本较低的器件进行ADC芯片测试，降低测试成本。
基本信息
专利标题 ：
ADC芯片测试电路和设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020823618.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-15
授权号 ：
CN212410777U
授权日 ：
2021-01-26
发明人 ：
刘彬赵希军李毅梁善儒李俊锋
申请人 ：
珠海南方集成电路设计服务中心
申请人地址 ：
广东省珠海市唐家湾哈工大路1号新经济资源港博士楼B101
代理机构 ：
广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人 ：
郑晨鸣
优先权 ：
CN202020823618.9
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-01-26 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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