扫描测试电路
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
在扫描测试电路中，移位动作时的时钟周期比捕获动作时的时钟周期短。例如，将移位动作时的时钟周期设定为20纳秒，而将捕获动作时的时钟周期设定为100纳秒。在这里，虽然时钟经由时钟端子CLK从LSI的外部的LSI测试器被提供，但是时钟的周期也可在LSI测试器侧与扫描使能信号(SCANEN)的变化同步地切换。根据本发明，能够缩小移位动作所占用的时间，并能够实现缩短扫描测试所需要的时间。从而，缩短扫描测试电路所需要的时间并降低测试成本。
基本信息
专利标题 ：
扫描测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1808159A
申请号 ：
CN200510003453.0
公开（公告）日 ：
2006-07-26
申请日 ：
2005-10-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
小石川悟渡边正
申请人 ：
三洋电机株式会社
申请人地址 ：
日本国大阪府
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
李香兰
优先权 ：
CN200510003453.0
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2008-07-30 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2006-07-26 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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