一种分立器件晶圆快速扫描测试电路及其装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种分立器件晶圆快速扫描测试电路及其装置,其测试电路包括功率驱动模块、电流采样模块、开关、电压采样模块、使能模块,所述测试电路以工作特性分为A、B、C三个端口,从每个端口引出两根连接线分别为采样端口和输出端口,功率驱动模块用于向输出端口进行功率驱动,电流采样模块用于采样输出线路上的电流值,开关用于切换电路的电压闭环和电流闭环,电压采样模块用于采样采样端口的电压,使能模块用于控制测试电路的工作状态。本实用新型还相应的公开了一种分立器件晶圆快速扫描测试装置,能够实现对分立器件晶圆的大电流参数进行快速扫描测量,有效提高了测试效率。
基本信息
专利标题 :
一种分立器件晶圆快速扫描测试电路及其装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020446091.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-03-31
授权号 :
CN212379510U
授权日 :
2021-01-19
发明人 :
王煜
申请人 :
陕西三海测试技术开发有限责任公司
申请人地址 :
陕西省西安市西部大道170号丰泽科技园2号楼401室
代理机构 :
西安通大专利代理有限责任公司
代理人 :
李鹏威
优先权 :
CN202020446091.2
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-01-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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