提高功率半导体器件动态测试效率的电路
公开
摘要
本发明涉及一种提高功率半导体器件动态测试效率的电路。其包括测试电路本体，测试电路本体包括开关K1以及开关K2，还包括设置于开关K1所在支路的第一可控型半导体开关电路以及设置于开关K2所在支路的第二可控型半导体开关电路，开关K1闭合且第一可控型半导体开关电路内的可控型半导体开关处于导通状态时，开关K1以及第一可控型半导体开关电路所在的支路处于通路状态；开关K2闭合且第二可控型半导体开关电路内的可控型半导体开关处于导通状态时，开关K2以及第二可控型半导体开关电路所在的支路处于通路状态。本发明可提高动态测试的效率，减少机械开关的动作次数，延长测试机的使用寿命，降低测试成本。
基本信息
专利标题 ：
提高功率半导体器件动态测试效率的电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114594360A
申请号 ：
CN202210268852.3
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2022-03-18
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张文亮李文江雷小阳朱阳军
申请人 ：
山东阅芯电子科技有限公司
申请人地址 ：
山东省威海市荣成市崂山南路788号
代理机构 ：
无锡华源专利商标事务所(普通合伙)
代理人 ：
冯智文
优先权 ：
CN202210268852.3
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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