测试器件以及采用测试器件进行测试的测试方法
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摘要

本发明公开了一种测试器件以及采用测试器件进行测试的测试方法。其中,该器件包括:第一共面波导和第二共面波导,第一共面波导包括第一中心导体带和位于第一中心导体带两侧的第二边缘接地带,第二共面波导包括第二中心导体带和位于第二中心导体带两侧的第二边缘接地带,位于第一中心导体带两侧的第一边缘接地带与位于第二中心导体带两侧的第二边缘接地带为一体,第一中心导体带与第二中心导体带之间预留有用于连接待测约瑟夫森结的目标位置,第一共面波导和第二共面波导组合形成测试器件的第一谐振腔。本发明解决了由于无法对约瑟夫森结的不同损耗机制进行定量区分测量造成的难以针对性地改进约瑟夫森结的技术问题。

基本信息
专利标题 :
测试器件以及采用测试器件进行测试的测试方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114200282A
申请号 :
CN202210139809.7
公开(公告)日 :
2022-03-18
申请日 :
2022-02-16
授权号 :
CN114200282B
授权日 :
2022-05-31
发明人 :
邓昊
申请人 :
阿里巴巴达摩院(杭州)科技有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市余杭区五常街道文一西路969号3幢5层516室
代理机构 :
北京博浩百睿知识产权代理有限责任公司
代理人 :
谢湘宁
优先权 :
CN202210139809.7
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  H01L39/22  G06N10/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-05-31 :
授权
2022-04-05 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/26
申请日 : 20220216
2022-03-18 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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