射频器件测试装置和射频器件测试系统
授权
摘要
本实用新型提供一种射频器件测试装置和射频器件测试系统，其中所述射频器件测试装置包括安装座及均设于安装座上的安装结构和线缆连接器，所述安装结构用于固定射频器件的腔体，所述线缆连接器的一端用于与射频器件的线缆连接。本实用新型提供的射频器件测试装置可通过线缆连接器将被测试的射频器件与相关的射频测试仪器或负载快速连接，无需繁琐焊接，且无需通过其他器件进行中间转接，减少对测试的影响，保证测试数据的真实性和准确性。
基本信息
专利标题 ：
射频器件测试装置和射频器件测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020462290.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-01
授权号 ：
CN212159865U
授权日 ：
2020-12-15
发明人 ：
邱建源李涛苏国生
申请人 ：
京信通信技术（广州）有限公司
申请人地址 ：
广东省广州市广州经济技术开发区金碧路6号
代理机构 ：
北京市立方律师事务所
代理人 ：
刘延喜
优先权 ：
CN202020462290.2
主分类号 ：
G01R1/04
IPC分类号 ：
G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳；支承构件；端子装置
法律状态
2020-12-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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