本实用新型涉及一种微电子元器件老化试验插座，尤其能对单列集成电路元器件可靠性进行高温老化试验和测试的插座。该插座按照24线单列型集成电路元器件结构设计和尺寸要求，将插座设计成插座体、接触件和锁紧装置三大组成部分。插座体由座、盖组成，座和盖选用进口耐高温型工程塑料，经高温注塑成型工艺技术制造成插座本体，用于被试器件的定位安装。接触件选用铍青铜材料经线切割机切割下料及打弯成型簧片，经300℃高温淬火处理及电镀硬金层技术表面镀金，采用与被试器件引出线相对应、2.54mm间距纵向排列、横向自动锁紧结构安装于插座体的座中。锁紧装置由滑块和手柄和轴组成，为横向推拉锁紧结构。