9线金属封装大功率电路元器件老化测试插座

专利权的终止

摘要

本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，尤其能对9线金属封装大功率电路元器件可靠性进行高温老化试验和测试的插座。按照9线单列型的结构设计和尺寸要求，将插座设计成三大组成部分，即插座体、接触件和锁紧装置。插座体由座、盖组成，选用进口的耐高温型特种高温工程塑料，经高温注塑成型，用于被试器件的定位安装；接触件以铍青铜材料经线切割切割成型，采用与被试器件引出线相对应、纵向排列、自动锁紧和零插拔力结构安装于插座体座中；锁紧装置采用双滑块紧结构，由上滑块、下滑块和手柄组成，当手柄受力向上翻转至水平位置时，上下滑块发生相对运动产生位移，接触件自动锁紧被试器件。通电后进行高温老化试验和性能测试，具有接触电阻小、一致性好、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和方便使用的优点，大大提高了插座的可靠性

基本信息

专利标题：

9线金属封装大功率电路元器件老化测试插座

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200720109316.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2007-05-10

授权号：

CN201112805Y

授权日：

2008-09-10

发明人：

曹宏国

申请人：

曹宏国

申请人地址：

313119浙江省长兴县槐坎乡新街电子厂108号

代理机构：

代理人：

优先权：

CN200720109316.X

主分类号：

H01R13/46

IPC分类号：

H01R13/46 H01R13/11 H01R13/639 H01R13/629 G01R1/02 G01R31/327

法律状态

2011-07-13 ：

专利权的终止

未缴年费专利权终止授权公告日 : 20080910
终止日期 : 20100510
号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101087110085
IPC(主分类) : H01R 13/46
专利号 : ZL200720109316X
申请日 : 20070510

2009-08-19 ：

专利申请权、专利权的转移(专利权的转移)

变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 曹宏国
变更后权利人 : 浙江长兴电子厂有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 浙江省长兴县槐坎乡新街电子厂108号,邮编 : 313119
变更后 : 浙江省长兴县槐坎乡振槐路86号,邮编 : 313119
登记生效日 : 20090710

2008-09-10 ：

授权

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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